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透射密度計TBX2000

The TBX1000? 透射密度計測量ISO視覺漫反射光學密度 (OD) 至6.60D. 較寬的測量范圍允許對多種類型的材質如薄膜，層壓板和基板進行評估.該設備帶有一個2.00D的校準標準但有一個可選的校準標準值需要購買。TBX1500還可以測量正點和負點區域；TBX2000測量不透明度百分比和透射度。數據可以通過USB端口（配件需另外采購）上傳電子表格。TBX?可以顯示所有函數的存儲參考值的偏差。

特點：

軟鍵菜單操作
先進的光學系統，滿足各行業的規格要求
7.5 英寸平臺，可測量大樣本
讀數可重復高
可選帶通濾波器
USB 端口標準
軟件校準
可切換 LED 燈

非常適合測量金屬薄膜的光學密度。

規格：

光學設計……………………………………………………………….............ANSI PH2.19

顯示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕（128x64像素）

光圈…………………………………………………………………………………..1，2，3毫米

桿長……………………………………………………………………………………7.5英寸

輸出接口……………………………………………………………………………USB

電源輸入……………………………………………………………………………12V輸入110/220適配器

測量范圍……………………………………………………………………………0-6.00D

準確度……………………………………………………………………………….0.02D

精度……………………………………………………………………………………0.01D

預熱時間…………………………………………………………………………….無

選項：

型號	PART#	功能
TBX1000	FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.)	密度；密度差
TBX1500	FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.)	密度；密度差；正負點距離
TBX2000	FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.)	密度；密度差；%密度；%透明度

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